高分辨率高倍顯微鏡飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 是*的集成化成像分析系統。借助該系統，既可觀察樣品的表面形貌，又可分析其元素組分。研究樣品時，得到樣品的形貌信息只是解決了一半問題。獲得樣品的元素組分信息往往也是非常必要的。借助全面集成、特殊設計的能譜探測器，飛納電鏡能譜一體機 Phenom ProX 可以完善解決上述所有問題。
zui高可重復性
1、電動控制硬件，以便在寬場（WF）、SR-SIM、PALM 和激光掃描顯微技術（LSM）等熒光成像模式之間實現輕松切換
2、使用 AOTF 控制的激光器和各種濾色片在多達4 個通道內采集多色超分辨率數據
3、借助物鏡及與各種超高分辨率技術相匹配的先進 EM-CCD 和sCMOs 相機探測器，獲取且可重復的結果
圖像品質始終如
1、采用特殊設計的光柵為每種波長提供*分辨率
2、選擇的視野范圍（FOV）大小來捕獲整個細胞，或提高激光功率密度以實現更的光切換
3、利用的定位信息對圖像進行三維渲染
4、擁有大量照明方案（EPI、HILO、TIRF）及用于獲得zui高圖像質量的漂移與顏色校正高性能算法
